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  • A3-SR反射式膜厚測量儀
    A3-SR反射式膜厚測量儀

    A3-SR-100S系列反射式膜厚儀可用于測量半導體鍍膜,手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度,PET柔性涂布的膠厚等厚度,LED鍍膜厚度,建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來一鍵式測量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量內(nèi)飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um

    時間:2024-08-16型號:A3-SR瀏覽量:10120
  • AvaSun-XL日曬校準儀
    AvaSun-XL日曬校準儀

    AvaSun-XL日曬校準儀主要是對日曬氣候色牢度試驗儀輻射強度進行校準測量,由于各日曬儀廠家內(nèi)部氙燈輻照度能量相比匹配太陽的能量差異各不相同,對織物或染料耐光(耐氣候)色牢度評級帶來較大影響,因此對日曬儀內(nèi)部氙燈輻照度強度校準測量變得非常有必要。

    時間:2024-08-16型號:AvaSun-XL瀏覽量:7648
  • VMS-8S透過率測試儀(分光光度儀)
    VMS-8S透過率測試儀(分光光度儀)

    VMS-8S型透過率測試儀(分光光度儀)-1.0mm或0.5mm 專業(yè)測試手機面板及平板電腦面板上的IR孔透過率,PDA檢測器測速快(1s)、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用?,F(xiàn)貨供應。

    時間:2024-08-29型號:VMS-8S瀏覽量:3973
  • LVmicroZ顯微分光系統(tǒng)
    LVmicroZ顯微分光系統(tǒng)

    LVmicroZ是顯微分光系統(tǒng),使用Lambda Vision制造分光專用顯微鏡,采用小孔直良手法測量彩色濾光片的微小面積的穿透率、反射率、辨色。分光器內(nèi)建光源,可以直接觀察量測點位置,也可以做反射光下的NIR顏料膜厚測量。

    時間:2024-08-16型號:LVmicroZ瀏覽量:3298
  • VMS-10S透過率測試儀(分光光度儀)
    VMS-10S透過率測試儀(分光光度儀)

    VMS-10S型透過率測試儀(分光光度儀)-0.3mm 2.5D玻璃面板透過率測試儀,專業(yè)測試手機面板及平板電腦面板上的IR孔透過率,PDA檢測器測速快(1s)、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。

    時間:2024-08-16型號:VMS-10S瀏覽量:3560
  • VMS-1SIR小孔透過率測試儀(分光光度儀)
    VMS-1SIR小孔透過率測試儀(分光光度儀)

    VMS-1S型透過率測試儀(分光光度儀)-1.0mm 2.5D玻璃面板透過率測試儀,專業(yè)測試手機面板及平板電腦面板上的IR孔透過率,PDA檢測器測速快(1s)、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長重復性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。目前該型號停產(chǎn),替代型號VMS-8S型。

    時間:2024-08-16型號:VMS-1S瀏覽量:3817
  • AvaSun-XL WiFi無線日曬光譜輻射儀
    AvaSun-XL WiFi無線日曬光譜輻射儀

    AvaSun-XL wifi 無線日曬校準光譜儀是荷蘭Avantes公司專門針對日曬儀內(nèi)部的連續(xù)型或脈沖型氙燈進行輻射校準測量,測量方式按照國家標準JJF(紡) 051-2012執(zhí)行,同時可以選擇多個國家標準和國際標準進行輻射校準測量,可以實現(xiàn)高精度、高穩(wěn)定性輻射光譜強度測量,采用了 非線性校準技術,保證響應一致性接近100%.

    時間:2024-08-16型號:AvaSun-XL WiFi瀏覽量:4308
  • E3000閃點測試儀
    E3000閃點測試儀

    本閃點測試儀主要包括:圖像采集模塊 、自動對焦模塊顯示照明模塊及軟件分析模塊, 可對屏幕或者光學膜的閃點性能進行測量。設備采用傅里葉變換對圖像進行頻率域內(nèi)濾波處理,并通過逆傅里葉變換分離出閃點信息。 應用范圍: 掩模版:采用背光和掩模版測量; 顯示屏:采用顯示屏直接測量,應用于防眩光膜、玻璃或者屏幕的閃點性能評估測試

    時間:2024-08-16型號:E3000瀏覽量:4985
  • Velox 1100PDA紫外 - 可見分光光度計
    Velox 1100PDA紫外 - 可見分光光度計

    專為玻璃行業(yè)推出透過率測試附件,水平或者垂直載物臺方便用戶操作測試,數(shù)秒即出全光譜數(shù)據(jù),廣泛應用于產(chǎn)品全檢。提供快速、可靠和緊湊的性能,3秒鐘即出全光譜數(shù)據(jù),使其成為在最小空間內(nèi)進行質量控制和保證測量的理想選擇。 光電二極管整列(pda)檢測器技術允許幾乎同時快速獲取全波長范 圍(從190 nm到110 nm)的光譜數(shù)據(jù)。

    時間:2024-09-27型號:Velox 1100瀏覽量:453
  • T5 plus便攜式薄膜黑白透射密度計
    T5 plus便攜式薄膜黑白透射密度計

    便攜,自帶電池可隨時隨地檢測;操做簡便,按下測量鍵即可讀數(shù);有三種測量孔徑可切換;無需熱機;配有調整功能,可與其他廠家的密度計進行對比使用;人性化設計,小巧緊湊,按任意鍵開機,自動關機。

    時間:2024-08-16型號:T5 plus瀏覽量:4334
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